掃描探針顯微鏡

型    號(hào)：Multimode Application module-ready nanoscope IIId SPM SYSTEM

產(chǎn)    地：美國(guó)

設(shè)備單價(jià)：116.35（萬(wàn)元）

技術(shù)指標(biāo)：1 縱向分辨率：可持續(xù)穩(wěn)定得到原子級(jí)分辨率。用原子力顯微鏡(AFM)模式石墨樣品進(jìn)行5－10nm范圍的掃描成像，測(cè)量圖像中石墨的臺(tái)階高度值，以此值來(lái)表征儀器的縱向分辨率；要求測(cè)量值在：0.30－0.38nm范圍內(nèi)

2 橫向分辨率：可持續(xù)穩(wěn)定得到原子級(jí)分辨率。用原子力顯微鏡(AFM)模式對(duì)云母樣品進(jìn)行5－10nm范圍的掃描成像，然后測(cè)量圖像中相鄰云母原子的間距值，以此值來(lái)表征儀器的橫向分辨率；要求測(cè)量值在0.50－0.55nm范圍內(nèi)。

3 噪聲水平：<0.3 Å，可持續(xù)穩(wěn)定地達(dá)到原子級(jí)分辨率。對(duì)外界環(huán)境具有較高的抗干擾性（有防震系統(tǒng)）。

4 最大掃描范圍：大于或等于 100μm*100 μm。

5 樣品尺寸范圍：大于或等于15 mm *15 mm。

6 光學(xué)觀(guān)察輔助系統(tǒng)：在操作原子力顯微鏡、掃描隧道顯微鏡的同時(shí)，可獲得光學(xué)圖象。

7 掃描電容顯微鏡配件：通過(guò)測(cè)量探針與半導(dǎo)體樣品之間的微電容變化，得到2D的載流子濃度分布圖像，測(cè)量范圍：1015 - 1020 carriers/cm3，分辨8 溫控臺(tái)部分：大氣環(huán)境高溫/負(fù)溫（-30℃至250°C）成像一體化配件，提供大氣環(huán)境下高溫及負(fù)溫(-30℃至250°C)成像功能（空氣中及惰性氣體環(huán)境），采用探針與樣品同時(shí)加熱技術(shù)，保證高溫下成像不失真。

8 電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)，能夠做電化學(xué)STM,電化學(xué)AFM以及電化學(xué)勢(shì)顯微鏡。

主要功能：原子力顯微鏡 (AFM)掃描模式\掃描隧道顯微鏡（STM）掃描模式